Измерительная система KEYENCE VK-X1000 с пинхольной конфокальной оптикой VK-X1000-325598

Артикул: VK-X1000-325598

Цена: по запросу

Есть в наличии

Добавить к сравнению

Работаем с 44ФЗ, 223ФЗ, 275ФЗ

Аккредитация на АСТ ГОЗ

Характеристики

Описание

Доставка вМосква

Самовывоз из магазина0 руб.

по предварительному заказу
(Москва, Пресненская наб., 12 «Башня Федерация. Москва-Сити», этаж 42)

Курьером (1-2 рабочих дня)0 руб.

Самовывоз из ПВЗ (1-2 рабочих дня)0 руб.

Показать карту

ХАРАКТЕРИСТИКИ

Weight

- Approx. 3.0 kg

Вес

- Прибл. 3.0 кг

Type

- Controller

Тип

- Контроллер

Current consumption

- 150 VA

Напряжение питания

- 100 до 240 В переменного тока, 50/60 Гц

Потребляемый ток

- 150 ВА

Класс лазера

- Класс 2 лазерный продукт (IEC60825-1)

Laser class

- Class 2 laser product (IEC60825-1)

Метод сканирования

- Автоматическая установка верхнего/нижнего предела, быстрая установка интенсивности лазерного света (AAGII), автоматическое обнаружение и повторное сканирование при плохом отражении (двойное сканирование)

Точность

- ±2 %

XY stage configuration Manual: Moving range

- 70 mm x 70 mm

Power supply Power voltage

- 100 to 240 VAC, 50/60 Hz

Подсветка

- Кольцевая подсветка, коаксиальная подсветка

Accuracy

- ±2 %*3

Total magnification

- Up to 28,800 x*1

Field of view (minimum range)

- 11 to 7,398 µm

Frame rate (laser measurement speed)

- 4 to 125 Hz, 7,900 Hz*2

Measurement principle Optical system

- Pinhole confocal optical system, Focus variation

Light-receiving element

- 16-bit sensing: photomultiplier, High-definition colour CMOS

Scanning method (during general measurement and image stitching)

- Automatic upper/lower limit setting, rapid laser light intensity setting (AAGII) , automatic detection and rescanning in case of poor reflection (double scan)

Height measurement Display resolution

- 0.5 nm (VK-X1100) , 5 nm (VK-X1050)

Dynamic range

- 16 bits

Repeatability Laser confocal

- 20 x, 40 nm, 50 x, 12 nm (VK-X1100) 20 x, 40 nm, 50 x, 20 nm (VK-X1050)

Focus variation

- 5 x, 400 nm, 10 x, 400 nm, 20 x, 120 nm, 50 x, 50 nm (VK-X1100) 5 x, 400 nm, 10 x, 400 nm, 20 x, 120 nm, 50 x, 65 nm (VK-X1050)

Height data acquisition range

- 0.7 million steps

Width measurement Display resolution

- 1 nm (VK-X1100) , 10 nm (VK-X1050)

Repeatability 3 Laser confocal

- 20 x, 100 nm, 50 x, 40 nm (VK-X1100) 20 x, 100 nm, 50 x, 50 nm (VK-X1050)

Motorised: Moving range

- 100 mm x 100 mm

Observation Image options

- High-definition colour CMOS image 16-bit laser colour confocal image Confocal optical system with ND filter C-laser DIC image (differential interference image)

Illumination

- Ring illumination, coaxial illumination

Laser light source for measurements Wavelength

- Violet semiconductor laser, 404 nm (VK-X1100) Red semiconductor laser, 661 nm (VK-X1050)

Maximum output power

- 1 mW

Поле зрения (минимальный диапазон)

- 11 до 7,398 мкм

Частота кадров (скорость лазерного измерения)

- 4 до 125 Гц, 7,900 Гц

Динамический диапазон

- 16 бит

Опции изображения

- Цветное CMOS-изображение высокого разрешения, 16-битное лазерное цветное конфокальное изображение, конфокальная оптическая система с ND-фильтром, C-лазерное DIC-изображение (дифференциальное интерференционное изображение)

Максимальная выходная мощность лазера

- 1 мВт

Принцип измерения оптической системы

- Пинхольная конфокальная оптическая система, изменение фокуса

Светочувствительный элемент

- 16-битный сенсор: фотоумножитель, цветной CMOS высокого разрешения

Длина волны лазерного источника для измерений

- Фиолетовый полупроводниковый лазер, 404 нм (VK-X1100); Красный полупроводниковый лазер, 661 нм (VK-X1050)

Разрешение дисплея по высоте

- 0.5 нм (VK-X1100), 5 нм (VK-X1050)

Разрешение дисплея по ширине

- 1 нм (VK-X1100), 10 нм (VK-X1050)

Увеличение (общее)

- До 28,800 x

Повторяемость (лазерный конфокальный)

- 20 x, 40 нм; 50 x, 12 нм (VK-X1100); 20 x, 40 нм; 50 x, 20 нм (VK-X1050)

Повторяемость (изменение фокуса)

- 5 x, 400 нм; 10 x, 400 нм; 20 x, 120 нм; 50 x, 50 нм (VK-X1100); 5 x, 400 нм; 10 x, 400 нм; 20 x, 120 нм; 50 x, 65 нм (VK-X1050)

Диапазон сбора данных по высоте

- 0.7 миллиона шагов

Повторяемость (ширина)

- 20 x, 100 нм; 50 x, 40 нм (VK-X1100); 20 x, 100 нм; 50 x, 50 нм (VK-X1050)

Конфигурация XY-стола (ручной, диапазон перемещения)

- 70 мм x 70 мм

Конфигурация XY-стола (моторизованный, диапазон перемещения)

- 100 мм x 100 мм

Особенность

- Измерительные

Модель

- VK-X1000

ОПИСАНИЕ

Измерительная система Keyence VK-X1000 представляет собой контроллер с пинхольной конфокальной оптической системой и функцией изменения фокуса. Устройство обеспечивает общее увеличение до 28 800x и минимальное поле зрения от 11 до 7398 мкм. Скорость лазерного измерения варьируется от 4 до 125 Гц, с пиковым значением 7900 Гц. Система оснащена 16-битным фотоумножителем и цветной CMOS-камерой высокого разрешения для приема света.

Прибор поддерживает автоматическую установку верхнего/нижнего предела, быструю настройку интенсивности лазерного света (AAGII) и автоматическое обнаружение с повторным сканированием при плохом отражении (двойное сканирование). Разрешение дисплея по высоте составляет 0.5 нм (для VK-X1100) или 5 нм (для VK-X1050), а по ширине — 1 нм (для VK-X1100) или 10 нм (для VK-X1050). Динамический диапазон системы составляет 16 бит, а точность измерения ±2%.

Система оснащена XY-столом с ручным перемещением 70x70 мм или моторизованным перемещением 100x100 мм. Доступны различные опции изображения, включая цветное CMOS-изображение высокого разрешения, 16-битное лазерное цветное конфокальное изображение и C-лазерное DIC-изображение. Подсветка осуществляется кольцевым и коаксиальным освещением. В качестве лазерного источника для измерений используется фиолетовый полупроводниковый лазер с длиной волны 404 нм (VK-X1100) или красный полупроводниковый лазер с длиной волны 661 нм (VK-X1050) с максимальной выходной мощностью 1 мВт, соответствующий классу 2 лазерных продуктов (IEC60825-1).

Измерительная система Keyence VK-X1000 работает от сети переменного тока 100-240 В, 50/60 Гц, с потребляемым током 150 ВА. Вес устройства составляет приблизительно 3.0 кг. Оборудование подходит для использования в промышленности, строительстве и инженерных системах, где требуется точный контроль и анализ поверхностей.

Последние отзывы или вопросы

Нет отзывов о данном товаре.

Написать отзыв или вопрос

Оценка:

Ваше имя:

Комментарий:

Прикрепить фото

Загрузить

Номер заказа:

Уведомить об ответах по e-mail:

Ваш e-mail:

Отправить отзыв

Подробно опишите свой опыт взаимодействия с магазином.
Расскажите, как вас обслуживали при выборе, заказе, доставке, возврате товара, о самом товаре и опыте его использования.