ПН-ВС 9:00-21:00

Ваш город - Москва

От выбраного города зависят сроки доставки

Юрлица: 8 (499) 450-86-44
Конфокальный 3D-измерительный микроскоп KEYENCE VK-X160K VK-X160K-325541
  • Конфокальный 3D-измерительный микроскоп KEYENCE VK-X160K VK-X160K-325541
  • Конфокальный 3D-измерительный микроскоп KEYENCE VK-X160K VK-X160K-325541
  • Конфокальный 3D-измерительный микроскоп KEYENCE VK-X160K VK-X160K-325541
  • Конфокальный 3D-измерительный микроскоп KEYENCE VK-X160K VK-X160K-325541
  • Конфокальный 3D-измерительный микроскоп KEYENCE VK-X160K VK-X160K-325541

Конфокальный 3D-измерительный микроскоп KEYENCE VK-X160K VK-X160K-325541

Артикул: VK-X160K-325541
Цена: по запросу
Есть в наличии
Работаем с 44ФЗ, 223ФЗ, 275ФЗ
Аккредитация на АСТ ГОЗ
Доставка вМосква
Самовывоз из магазина0 руб.
по предварительному заказу
(Москва, Пресненская наб., 12 «Башня Федерация. Москва-Сити», этаж 42)
Самовывоз из ПВЗ (1-2 рабочих дня)0 руб.

ХАРАКТЕРИСТИКИ

Repeatability
- 20?: 40 nm, 50?: 20 nm, 100?: 20 nm *3
Вес контроллера
- Прибл. 11 кг
Controller
- Approx. 11 kg
Accuracy
- ±2%*3
Точность измерения
- ±2%
Total magnification
- Up to 19200?*1
Field of view (minimum range)
- 16 to 5400 µm
Width measurement Display resolution
- 10 nm
Общее увеличение
- До 19200x
Поле зрения (минимальный диапазон)
- 16 до 5400 мкм
Frame rate Laser measurement speed
- 4 to 120 Hz, 7,900 Hz*2
Measurement principles Optical system
- Pinhole confocal optical system
Height measurement Linear scale
- 5 nm
Memory for Z-axis measurement
- 1.4 million steps
Repeatability 3
- 20?: 100 nm, 50?: 50 nm, 100?: 30 nm*3
XY stage configuration Manual: Operating range
- 70 mm?70 mm
Motorized: Operating range
- 50 ? 50 mm, 100 ? 100 mm*6
Observation Maximum capture resolution
- 3072?2304
Weight Microscope
- Approx. 25 kg (without sensor head, approx. 8.5 kg)
Частота кадров лазерного измерения
- 4 до 120 Гц, 7900 Гц
Повторяемость измерения высоты
- 20x: 40 нм, 50x: 20 нм, 100x: 20 нм
Повторяемость измерения ширины
- 20x: 100 нм, 50x: 50 нм, 100x: 30 нм
Максимальное разрешение захвата
- 3072 x 2304
Вес микроскопа
- Прибл. 25 кг (без сенсорной головки, прибл. 8.5 кг)
Линейная шкала измерения высоты
- 5 нм
Память для измерения по Z-оси
- 1.4 миллиона шагов
Разрешение дисплея измерения ширины
- 10 нм
Принцип измерения оптической системы
- Пинхол конфокальная оптическая система
Конфигурация XY-столика (ручной, диапазон)
- 70 мм x 70 мм
Конфигурация XY-столика (моторизованный, диапазон)
- 50 x 50 мм, 100 x 100 мм
Модель

ОПИСАНИЕ

Конфокальный 3D-измерительный микроскоп Keyence VK-X160K предназначен для высокоточных измерений и анализа поверхностей. Устройство произведено брендом Keyence и соответствует современным стандартам качества. Оно применяется в различных отраслях, включая промышленность, строительство и инженерные системы, где требуется стабильная работа оборудования и минимальные эксплуатационные затраты.

Микроскоп VK-X160K оснащен конфокальной оптической системой с пинхолом, обеспечивающей измерение высоты с линейной шкалой 5 нм и точностью ±2%. Общее увеличение достигает 19200x, а поле зрения варьируется от 16 до 5400 мкм. Скорость лазерного измерения составляет от 4 до 120 Гц, с максимальной частотой 7900 Гц. Память для измерения по Z-оси составляет 1.4 миллиона шагов. Разрешение дисплея при измерении ширины составляет 10 нм.

Оборудование может быть оснащено как ручным XY-столиком с диапазоном 70x70 мм, так и моторизованным с диапазонами 50x50 мм или 100x100 мм. Максимальное разрешение захвата изображений составляет 3072x2304 пикселей. Микроскоп Keyence VK-X160K подходит для задач, требующих высокой точности и детализации измерений, а также для контроля качества в производственных процессах.

Вес микроскопа без сенсорной головки составляет приблизительно 25 кг (с сенсорной головкой около 8.5 кг), а вес контроллера — около 11 кг. Эти параметры обеспечивают устойчивость и удобство при эксплуатации. Отзывы пользователей подтверждают долговечность и простоту использования оборудования Keyence.

Последние отзывы или вопросы

Нет отзывов о данном товаре.