ПН-ВС 9:00-21:00

Ваш город - Москва

От выбраного города зависят сроки доставки

Юрлица: 8 (499) 450-86-99
Конфокальный лазерный микроскоп KEYENCE VK-X1000 VK-X1000-325534
  • Конфокальный лазерный микроскоп KEYENCE VK-X1000 VK-X1000-325534
  • Конфокальный лазерный микроскоп KEYENCE VK-X1000 VK-X1000-325534
  • Конфокальный лазерный микроскоп KEYENCE VK-X1000 VK-X1000-325534
  • Конфокальный лазерный микроскоп KEYENCE VK-X1000 VK-X1000-325534
  • Конфокальный лазерный микроскоп KEYENCE VK-X1000 VK-X1000-325534

Конфокальный лазерный микроскоп KEYENCE VK-X1000 VK-X1000-325534

Артикул: VK-X1000-325534
Цена: по запросу
Есть в наличии
Работаем с 44ФЗ, 223ФЗ, 275ФЗ
Аккредитация на АСТ ГОЗ
Доставка вМосква
Самовывоз из магазина0 руб.
по предварительному заказу
(Москва, Пресненская наб., 12 «Башня Федерация. Москва-Сити», этаж 42)
Самовывоз из ПВЗ (1-2 рабочих дня)0 руб.

ХАРАКТЕРИСТИКИ

Weight
- Approx. 3.0 kg
Вес
- Прибл. 3.0 кг
Type
- Controller
Current consumption
- 150 VA
Напряжение питания
- 100 до 240 В переменного тока, 50/60 Гц
Потребляемый ток
- 150 ВА
Класс лазера
- Класс 2 (IEC60825-1)
Laser class
- Class 2 laser product (IEC60825-1)
Точность
- ±2 %
XY stage configuration Manual: Moving range
- 70 mm x 70 mm
Power supply Power voltage
- 100 to 240 VAC, 50/60 Hz
Принцип измерения
- Пинхол-конфокальная оптическая система, вариация фокуса
Accuracy
- ±2 %*3
Total magnification
- Up to 28,800 x*1
Field of view (minimum range)
- 11 to 7,398 µm
Frame rate (laser measurement speed)
- 4 to 125 Hz, 7,900 Hz*2
Measurement principle Optical system
- Pinhole confocal optical system, Focus variation
Light-receiving element
- 16-bit sensing: photomultiplier, High-definition colour CMOS
Scanning method (during general measurement and image stitching)
- Automatic upper/lower limit setting, rapid laser light intensity setting (AAGII) , automatic detection and rescanning in case of poor reflection (double scan)
Height measurement Display resolution
- 0.5 nm (VK-X1100) , 5 nm (VK-X1050)
Dynamic range
- 16 bits
Repeatability Laser confocal
- 20 x, 40 nm, 50 x, 12 nm (VK-X1100) 20 x, 40 nm, 50 x, 20 nm (VK-X1050)
Focus variation
- 5 x, 400 nm, 10 x, 400 nm, 20 x, 120 nm, 50 x, 50 nm (VK-X1100) 5 x, 400 nm, 10 x, 400 nm, 20 x, 120 nm, 50 x, 65 nm (VK-X1050)
Height data acquisition range
- 0.7 million steps
Width measurement Display resolution
- 1 nm (VK-X1100) , 10 nm (VK-X1050)
Repeatability 3 Laser confocal
- 20 x, 100 nm, 50 x, 40 nm (VK-X1100) 20 x, 100 nm, 50 x, 50 nm (VK-X1050)
Motorised: Moving range
- 100 mm x 100 mm
Observation Image options
- High-definition colour CMOS image 16-bit laser colour confocal image Confocal optical system with ND filter C-laser DIC image (differential interference image)
Illumination
- Ring illumination, coaxial illumination
Laser light source for measurements Wavelength
- Violet semiconductor laser, 404 nm (VK-X1100) Red semiconductor laser, 661 nm (VK-X1050)
Maximum output power
- 1 mW
Тип микроскопа
- Конфокальный лазерный
Общее увеличение
- До 28 800 x
Поле зрения (минимальный диапазон)
- 11 до 7 398 мкм
Частота кадров (скорость лазерного измерения)
- 4 до 125 Гц, 7 900 Гц
Светоприемный элемент
- 16-битный фотоумножитель, высокочеткая цветная CMOS
Разрешение по высоте (VK-X1100)
- 0.5 нм
Разрешение по высоте (VK-X1050)
- 5 нм
Динамический диапазон
- 16 бит
Повторяемость лазерного конфокального (20x)
- 40 нм (VK-X1100), 40 нм (VK-X1050)
Повторяемость лазерного конфокального (50x)
- 12 нм (VK-X1100), 20 нм (VK-X1050)
Повторяемость вариации фокуса (5x)
- 400 нм (VK-X1100), 400 нм (VK-X1050)
Повторяемость вариации фокуса (10x)
- 400 нм (VK-X1100), 400 нм (VK-X1050)
Повторяемость вариации фокуса (20x)
- 120 нм (VK-X1100), 120 нм (VK-X1050)
Повторяемость вариации фокуса (50x)
- 50 нм (VK-X1100), 65 нм (VK-X1050)
Диапазон получения данных о высоте
- 0.7 млн шагов
Разрешение по ширине (VK-X1100)
- 1 нм
Разрешение по ширине (VK-X1050)
- 10 нм
Повторяемость ширины лазерного конфокального (20x)
- 100 нм (VK-X1100), 100 нм (VK-X1050)
Повторяемость ширины лазерного конфокального (50x)
- 40 нм (VK-X1100), 50 нм (VK-X1050)
Конфигурация XY-стола (ручной)
- Диапазон перемещения 70 x 70 мм
Конфигурация XY-стола (моторизованный)
- Диапазон перемещения 100 x 100 мм
Опции изображения
- Высокочеткое цветное CMOS изображение, 16-битное лазерное цветное конфокальное изображение, конфокальная оптическая система с ND-фильтром, C-лазерное DIC изображение
Освещение
- Кольцевое, коаксиальное
Длина волны лазерного источника (VK-X1100)
- Фиолетовый полупроводниковый лазер, 404 нм
Длина волны лазерного источника (VK-X1050)
- Красный полупроводниковый лазер, 661 нм
Максимальная выходная мощность лазера
- 1 мВт
Модель

ОПИСАНИЕ

Конфокальный лазерный микроскоп Keyence VK-X1000 предназначен для высокоточных измерений и анализа поверхностей. Модель VK-X1000 от бренда Keyence использует пинхол-конфокальную оптическую систему и метод вариации фокуса для получения детализированных изображений и данных о высоте. Устройство обеспечивает общее увеличение до 28 800x и минимальное поле зрения от 11 до 7 398 мкм, что позволяет исследовать объекты на микро- и наноуровне.

Микроскоп оснащен 16-битным фотоумножителем и высокочеткой цветной CMOS-камерой для захвата изображений. Скорость лазерного измерения варьируется от 4 до 125 Гц, с возможностью ускорения до 7 900 Гц. Разрешение по высоте составляет 0.5 нм для модели VK-X1100 и 5 нм для VK-X1050, а разрешение по ширине — 1 нм и 10 нм соответственно. Динамический диапазон в 16 бит обеспечивает точную передачу градации яркости. Встроенные функции автоматической настройки интенсивности лазера (AAGII) и повторного сканирования при плохом отражении повышают надежность измерений.

Оборудование подходит для применения в промышленности, научно-исследовательских лабораториях, строительстве и инженерных системах, где требуется точный контроль качества поверхностей, анализ материалов и микроструктур. Ручной XY-стол имеет диапазон перемещения 70 x 70 мм, а моторизованный — 100 x 100 мм. Доступны различные опции наблюдения, включая 16-битное лазерное цветное конфокальное изображение и C-лазерное DIC изображение.

В качестве источника лазерного света для измерений используется фиолетовый полупроводниковый лазер с длиной волны 404 нм (для VK-X1100) или красный полупроводниковый лазер 661 нм (для VK-X1050) с максимальной выходной мощностью 1 мВт. Микроскоп соответствует классу 2 лазерных продуктов (IEC60825-1) и работает от сети 100-240 В переменного тока. Его вес составляет около 3.0 кг.

Последние отзывы или вопросы

Нет отзывов о данном товаре.