ПН-ВС 9:00-21:00

Ваш город - Москва

От выбраного города зависят сроки доставки

Юрлица: 8 (499) 450-86-44
Конфокальный микроскоп KEYENCE VK-X1050 с увеличением до 28800x VK-X1050-325530
  • Конфокальный микроскоп KEYENCE VK-X1050 с увеличением до 28800x VK-X1050-325530
  • Конфокальный микроскоп KEYENCE VK-X1050 с увеличением до 28800x VK-X1050-325530
  • Конфокальный микроскоп KEYENCE VK-X1050 с увеличением до 28800x VK-X1050-325530
  • Конфокальный микроскоп KEYENCE VK-X1050 с увеличением до 28800x VK-X1050-325530
  • Конфокальный микроскоп KEYENCE VK-X1050 с увеличением до 28800x VK-X1050-325530

Конфокальный микроскоп KEYENCE VK-X1050 с увеличением до 28800x VK-X1050-325530

Артикул: VK-X1050-325530
Цена: по запросу
Есть в наличии
Работаем с 44ФЗ, 223ФЗ, 275ФЗ
Аккредитация на АСТ ГОЗ
Доставка вМосква
Самовывоз из магазина0 руб.
по предварительному заказу
(Москва, Пресненская наб., 12 «Башня Федерация. Москва-Сити», этаж 42)
Самовывоз из ПВЗ (1-2 рабочих дня)0 руб.

ХАРАКТЕРИСТИКИ

Weight
- Approx. 13.0 kg
Вес
- Прибл. 13.0 кг
Type
- Measurement head
Тип
- Измерительная головка
Current consumption
- 150 VA
Напряжение питания
- 100 до 240 В переменного тока, 50/60 Гц
Потребляемый ток
- 150 ВА
Класс лазера
- Класс 2 (IEC60825-1)
Laser class
- Class 2 laser product (IEC60825-1)
Метод сканирования
- Автоматическая установка верхнего/нижнего предела, быстрая установка интенсивности лазерного света (AAGII), автоматическое обнаружение и повторное сканирование при плохом отражении (двойное сканирование)
Точность
- ±2 %
XY stage configuration Manual: Moving range
- 70 mm x 70 mm
Power supply Power voltage
- 100 to 240 VAC, 50/60 Hz
Подсветка
- Кольцевая подсветка, коаксиальная подсветка
Accuracy
- ±2 %*3
Total magnification
- Up to 28,800 x*1
Field of view (minimum range)
- 11 to 7,398 µm
Frame rate (laser measurement speed)
- 4 to 125 Hz, 7,900 Hz*2
Measurement principle Optical system
- Pinhole confocal optical system, Focus variation
Light-receiving element
- 16-bit sensing: photomultiplier, High-definition colour CMOS
Scanning method (during general measurement and image stitching)
- Automatic upper/lower limit setting, rapid laser light intensity setting (AAGII) , automatic detection and rescanning in case of poor reflection (double scan)
Height measurement Display resolution
- 5 nm
Dynamic range
- 16 bits
Repeatability Laser confocal
- 20 x, 40 nm, 50 x, 20 nm
Focus variation
- 5 x, 400 nm, 10 x, 400 nm, 20 x, 120 nm, 50 x, 65 nm
Height data acquisition range
- 0.7 million steps
Width measurement Display resolution
- 10 nm
Repeatability 3 Laser confocal
- 20 x, 100 nm, 50 x, 50 nm
Motorised: Moving range
- 100 mm x 100 mm
Observation Image options
- High-definition colour CMOS image 16-bit laser colour confocal image Confocal optical system with ND filter C-laser DIC image (differential interference image)
Illumination
- Ring illumination, coaxial illumination
Laser light source for measurements Wavelength
- Red semiconductor laser, 661 nm
Maximum output power
- 1 mW
Общее увеличение
- До 28800 x
Поле зрения (минимальный диапазон)
- 11 до 7398 мкм
Частота кадров (скорость лазерного измерения)
- 4 до 125 Гц, 7900 Гц
Динамический диапазон
- 16 бит
Диапазон получения данных о высоте
- 0.7 миллиона шагов
Конфигурация XY-стола (ручной)
- Диапазон перемещения 70 мм x 70 мм
Конфигурация XY-стола (моторизованный)
- Диапазон перемещения 100 мм x 100 мм
Опции изображения
- Высокоточное цветное CMOS-изображение, 16-битное лазерное цветное конфокальное изображение, конфокальная оптическая система с ND-фильтром, C-лазерное DIC-изображение (дифференциальное интерференционное изображение)
Максимальная выходная мощность лазера
- 1 мВт
Разрешение измерения высоты
- 5 нм
Разрешение измерения ширины
- 10 нм
Повторяемость измерения ширины
- 20x, 100 нм; 50x, 50 нм
Принцип измерения оптической системы
- Пинхольная конфокальная оптическая система, вариация фокуса
Светочувствительный элемент
- 16-битное зондирование: фотоумножитель, высокоточный цветной CMOS
Повторяемость лазерного конфокального измерения
- 20x, 40 нм; 50x, 20 нм
Повторяемость измерения вариации фокуса
- 5x, 400 нм; 10x, 400 нм; 20x, 120 нм; 50x, 65 нм
Длина волны лазерного источника для измерений
- Красный полупроводниковый лазер, 661 нм
Модель
Особенность

ОПИСАНИЕ

Микроскоп Keyence VK-X1050 представляет собой измерительную головку, разработанную для высокоточных исследований. Устройство использует пинхольную конфокальную оптическую систему и метод вариации фокуса для получения данных. Общее увеличение достигает 28 800x, а минимальное поле зрения составляет от 11 до 7398 мкм. Скорость лазерного измерения варьируется от 4 до 125 Гц, с пиковым значением до 7900 Гц.

Система оснащена 16-битным фотоумножителем и высокоточным цветным CMOS-сенсором для приема света. Разрешение измерения высоты составляет 5 нм, а динамический диапазон — 16 бит. Повторяемость лазерного конфокального измерения при 20x составляет 40 нм, при 50x — 20 нм. Для вариации фокуса эти значения составляют 400 нм при 5x и 10x, 120 нм при 20x и 65 нм при 50x. Диапазон получения данных о высоте достигает 0,7 миллиона шагов с точностью ±2%.

Микроскоп Keyence VK-X1050 предназначен для применения в промышленности, строительстве и инженерных системах, где требуется точный контроль качества и анализ поверхностей. Он способен выполнять автоматическую настройку верхнего/нижнего предела, быструю настройку интенсивности лазерного света (AAGII) и автоматическое обнаружение с повторным сканированием при плохом отражении (двойное сканирование).

Устройство оснащено ручным XY-столом с диапазоном перемещения 70 x 70 мм и моторизованным XY-столом с диапазоном 100 x 100 мм. Источник лазерного света — красный полупроводниковый лазер с длиной волны 661 нм и максимальной выходной мощностью 1 мВт, относящийся к лазерным продуктам класса 2. Питание осуществляется от сети 100-240 В переменного тока, 50/60 Гц, при потреблении 150 ВА. Вес микроскопа составляет приблизительно 13,0 кг.

Последние отзывы или вопросы

Нет отзывов о данном товаре.