Микроскоп KEYENCE VH-ZST с увеличением до 2000x VH-ZST-325399

Артикул: VH-ZST-325399

Цена: по запросу

Есть в наличии

Добавить к сравнению

Работаем с 44ФЗ, 223ФЗ, 275ФЗ

Аккредитация на АСТ ГОЗ

Характеристики

Описание

Доставка вМосква

Самовывоз из магазина0 руб.

по предварительному заказу
(Москва, Пресненская наб., 12 «Башня Федерация. Москва-Сити», этаж 42)

Курьером (1-2 рабочих дня)0 руб.

Самовывоз из ПВЗ (1-2 рабочих дня)0 руб.

Показать карту

ХАРАКТЕРИСТИКИ

Рабочее расстояние -

15 mm

Magnification -

20 x, 100 x, 200 x, 500 x, 1000 x, 2000 x*1

Field-of-view Horizontal -

20 x: 15240 µm 100 x: 3050 µm 200 x: 1520 µm 500 x: 610 µm 1000 x: 300 µm 2000 x: 150 µm

Vertical -

20 x: 11400 µm 100 x: 2280 µm 200 x: 1140 µm 500 x: 460 µm 1000 x: 230 µm 2000 x: 110 µm

Diagonal -

20 x: 19050 µm 100 x: 3810 µm 200 x: 1910 µm 500 x: 760 µm 1000 x: 380 µm 2000 x: 190 µm

Working distance -

15 mm

Увеличение -

20 x, 100 x, 200 x, 500 x, 1000 x, 2000 x

Поле зрения (горизонтальное) -

20 x: 15240 µm, 100 x: 3050 µm, 200 x: 1520 µm, 500 x: 610 µm, 1000 x: 300 µm, 2000 x: 150 µm

Поле зрения (вертикальное) -

20 x: 11400 µm, 100 x: 2280 µm, 200 x: 1140 µm, 500 x: 460 µm, 1000 x: 230 µm, 2000 x: 110 µm

Поле зрения (диагональное) -

20 x: 19050 µm, 100 x: 3810 µm, 200 x: 1910 µm, 500 x: 760 µm, 1000 x: 380 µm, 2000 x: 190 µm

Модель -

VH-ZST

ОПИСАНИЕ

Микроскоп Keyence VH-ZST представляет собой оборудование для визуализации с переменным увеличением. Модель VH-ZST от бренда Keyence обеспечивает диапазон увеличения от 20x до 2000x, что позволяет использовать его для детального изучения различных объектов. Рабочее расстояние составляет 15 мм, что обеспечивает удобство при работе с образцами.

Технические характеристики микроскопа включают различные поля зрения в зависимости от выбранного увеличения. Например, при 20x горизонтальное поле зрения составляет 15240 мкм, а при максимальном увеличении 2000x — 150 мкм. Это обеспечивает гибкость в исследовании как крупных, так и мельчайших структур.

Данное оборудование подходит для применения в промышленности, строительстве и инженерных системах, где требуется точный визуальный контроль и анализ. Оно может использоваться для контроля качества материалов, исследования микроструктур, а также для образовательных и научно-исследовательских целей.

Последние отзывы или вопросы

Нет отзывов о данном товаре.

Написать отзыв или вопрос

Оценка:

Ваше имя:

Комментарий:

Прикрепить фото

Загрузить

Номер заказа:

Уведомить об ответах по e-mail:

Ваш e-mail:

Отправить отзыв

Подробно опишите свой опыт взаимодействия с магазином.
Расскажите, как вас обслуживали при выборе, заказе, доставке, возврате товара, о самом товаре и опыте его использования.