Микроскоп KEYENCE VK-X120K конфокальный лазерный 3D до 19200x VK-X120K-325538

Микроскоп Keyence VK-X120K представляет собой конфокальный лазерный 3D-микроскоп, разработанный для высокоточных измерений и анализа поверхностей. Модель VK-X120K от бренда Keyence обеспечивает общее увеличение до 19200x и минимальное поле зрения от 16 до 5400 мкм, что позволяет проводить детальное исследование микроструктур. Устройство предназначено для использования в промышленности, строительстве и инженерных системах, где требуется точный контроль качества и анализ материалов.

Оптическая система микроскопа основана на пинхол-конфокальном принципе измерения, что обеспечивает высокую точность. Разрешение измерения высоты составляет 5 нм, а точность измерения высоты — ±2%. Разрешение измерения ширины достигает 10 нм. Частота кадров лазерного измерения варьируется от 4 до 120 Гц, с пиковым значением 7900 Гц. Память для измерения по оси Z составляет 1.4 миллиона шагов, что позволяет сохранять обширные данные для анализа.

Микроскоп оснащен XY-столом с ручным управлением (диапазон 70x70 мм) и моторизованным управлением (диапазон 50x50 мм или 100x100 мм), обеспечивая гибкость при позиционировании образцов. Максимальное разрешение захвата изображения составляет 3072x2304 пикселей. Оборудование отличается стабильной работой при высоких нагрузках, что подтверждается отзывами пользователей о его долговечности и простоте эксплуатации.

Микроскоп Keyence VK-X120K предназначен для широкого спектра задач, включая контроль качества в производстве, анализ материалов, исследования в области микроэлектроники и металлургии. Его технические характеристики позволяют применять его для точных измерений и анализа поверхностей с микронной и нанометровой детализацией.