Микроскоп конфокальный KEYENCE VK-X1100 с увеличением до 28800x VK-X1100-325537

Микроскоп Keyence VK-X1100 представляет собой измерительную головку, разработанную для высокоточных исследований и измерений. Устройство произведено брендом Keyence и обеспечивает общее увеличение до 28 800x. Принцип измерения основан на пинхольной конфокальной оптической системе и вариации фокуса, что позволяет получать детализированные данные о поверхности образцов.

Технические характеристики микроскопа включают разрешение по высоте 0.5 нм и разрешение по ширине 1 нм, что гарантирует высокую точность измерений. Диапазон измерения высоты составляет 0.7 миллиона шагов с точностью ±2%. Устройство оснащено 16-битным фотоумножителем и высокоточным цветным CMOS-сенсором для получения изображений. Источник лазерного света — фиолетовый полупроводниковый лазер с длиной волны 404 нм и максимальной выходной мощностью 1 мВт, относящийся к лазерному продукту класса 2.

Микроскоп Keyence VK-X1100 подходит для применения в промышленности, строительстве и инженерных системах, где требуется точный анализ микроструктур и поверхностей. Он может использоваться для контроля качества, исследований материалов и разработки новых продуктов. Устройство обеспечивает стабильную работу и минимальные эксплуатационные затраты благодаря своей надёжности и энергоэффективности.

Оборудование поставляется с возможностью ручной или моторизованной конфигурации XY-стола с диапазоном перемещения 70x70 мм или 100x100 мм соответственно. Питание осуществляется от сети 100-240 В переменного тока, 50/60 Гц, при потреблении 150 ВА. Вес устройства составляет приблизительно 13.0 кг.

• Тип: измерительная головка;
• Общее увеличение: до 28 800x;
• Поле зрения (минимальный диапазон): от 11 до 7 398 мкм;
• Частота кадров (скорость лазерного измерения): от 4 до 125 Гц, 7 900 Гц;
• Принцип измерения: пинхольная конфокальная оптическая система, вариация фокуса;
• Светочувствительный элемент: 16-битный фотоумножитель, высокоточный цветной CMOS;
• Метод сканирования: автоматическая установка верхнего/нижнего предела, быстрая установка интенсивности лазерного света (AAGII), автоматическое обнаружение и повторное сканирование при плохом отражении (двойное сканирование);
• Разрешение дисплея по высоте: 0.5 нм;
• Динамический диапазон: 16 бит;
• Повторяемость лазерного конфокального измерения: 20x, 40 нм; 50x, 12 нм;
• Повторяемость вариации фокуса: 5x, 400 нм; 10x, 400 нм; 20x, 120 нм; 50x, 50 нм;
• Диапазон сбора данных о высоте: 0.7 миллиона шагов;
• Точность: ±2%;
• Разрешение дисплея по ширине: 1 нм;
• Повторяемость лазерного конфокального измерения (3): 20x, 100 нм; 50x, 40 нм;
• Конфигурация XY-стола (ручная): диапазон перемещения 70 мм x 70 мм;
• Конфигурация XY-стола (моторизованная): диапазон перемещения 100 мм x 100 мм;
• Опции изображения: высокоточное цветное CMOS-изображение, 16-битное лазерное цветное конфокальное изображение, конфокальная оптическая система с ND-фильтром, C-лазерное DIC-изображение (дифференциально-интерференционное изображение);
• Подсветка: кольцевая подсветка, коаксиальная подсветка;
• Длина волны лазерного источника света для измерений: фиолетовый полупроводниковый лазер, 404 нм;
• Максимальная выходная мощность: 1 мВт;
• Класс лазера: лазерный продукт класса 2 (IEC60825-1);
• Напряжение питания: 100 до 240 В переменного тока, 50/60 Гц;
• Потребляемый ток: 150 ВА;
• Вес: приблизительно 13.0 кг.