ПН-ВС 9:00-21:00

Ваш город - Москва

От выбраного города зависят сроки доставки

Юрлица: 8 (499) 450-86-44
Микроскоп конфокальный KEYENCE VK-X260K с увеличением до 28000x VK-X260K-325544
  • Микроскоп конфокальный KEYENCE VK-X260K с увеличением до 28000x VK-X260K-325544
  • Микроскоп конфокальный KEYENCE VK-X260K с увеличением до 28000x VK-X260K-325544
  • Микроскоп конфокальный KEYENCE VK-X260K с увеличением до 28000x VK-X260K-325544
  • Микроскоп конфокальный KEYENCE VK-X260K с увеличением до 28000x VK-X260K-325544
  • Микроскоп конфокальный KEYENCE VK-X260K с увеличением до 28000x VK-X260K-325544

Микроскоп конфокальный KEYENCE VK-X260K с увеличением до 28000x VK-X260K-325544

Артикул: VK-X260K-325544
Цена: по запросу
Есть в наличии
Работаем с 44ФЗ, 223ФЗ, 275ФЗ
Аккредитация на АСТ ГОЗ
Доставка вМосква
Самовывоз из магазина0 руб.
по предварительному заказу
(Москва, Пресненская наб., 12 «Башня Федерация. Москва-Сити», этаж 42)
Самовывоз из ПВЗ (1-2 рабочих дня)0 руб.

ХАРАКТЕРИСТИКИ

Repeatability
- 20?: 40 nm, 50?: 12 nm, 150?: 12 nm *3
Вес контроллера
- Прибл. 11 кг
Controller
- Approx. 11 kg
Точность
- ±2%
Принцип измерения
- Пинхол-конфокальная оптическая система
Accuracy
- ±2%*3
Total magnification
- Up to 28000?*1
Field of view (minimum range)
- 11 to 5400 µm
Width measurement Display resolution
- 1 nm
Frame rate Laser measurement speed
- 4 to 120 Hz, 7,900 Hz*2
Measurement principles Optical system
- Pinhole confocal optical system
Height measurement Linear scale
- 0.5 nm
Memory for Z-axis measurement
- 14 million steps
Repeatability 3
- 20?: 100 nm, 50?: 40 nm, 150?: 20 nm*3
XY stage configuration Manual: Operating range
- 70 mm?70 mm
Motorized: Operating range
- 50 ? 50 mm, 100 ? 100 mm*6
Observation Maximum capture resolution
- 3072?2304
Weight Microscope
- Approx. 26 kg (without sensor head, approx. 10 kg)
Повторяемость измерения высоты
- 20x: 40 нм; 50x: 12 нм; 150x: 12 нм
Память для измерения по оси Z
- 14 миллионов шагов
Повторяемость измерения ширины
- 20x: 100 нм; 50x: 40 нм; 150x: 20 нм
Максимальное разрешение захвата
- 3072x2304
Вес микроскопа
- Прибл. 26 кг (без сенсорной головки прибл. 10 кг)
Максимальное увеличение
- До 28000x
Минимальное поле зрения
- 11 до 5400 мкм
Скорость лазерного измерения
- 4-120 Гц (7900 Гц)
Линейная шкала измерения высоты
- 0.5 нм
Разрешение дисплея измерения ширины
- 1 нм
XY-стол ручной (диапазон)
- 70x70 мм
XY-стол моторизованный (диапазон)
- 50x50 мм; 100x100 мм
Особенность
Модель

ОПИСАНИЕ

Микроскоп Keyence VK-X260K является конфокальным оптическим прибором, разработанным для высокоточных измерений и исследований поверхностей. Произведенный брендом Keyence, он предлагает максимальное увеличение до 28000x и минимальное поле зрения от 11 до 5400 мкм. Устройство использует пинхол-конфокальную оптическую систему для обеспечения точности измерений.

Технические характеристики включают скорость лазерного измерения от 4 до 120 Гц (до 7900 Гц в режиме 2) и линейную шкалу измерения высоты 0.5 нм. Повторяемость измерения высоты составляет 40 нм для 20x, 12 нм для 50x и 150x. Точность измерения составляет ±2%. Разрешение дисплея при измерении ширины составляет 1 нм, с повторяемостью 100 нм для 20x, 40 нм для 50x и 20 нм для 150x. Микроскоп оснащен памятью для измерения по Z-оси на 14 миллионов шагов.

Оборудование подходит для применения в промышленности, строительстве и инженерных системах, где требуется стабильная работа и точные измерения. Конфигурация XY-стола доступна в ручном варианте с диапазоном 70x70 мм и моторизованном варианте с диапазонами 50x50 мм или 100x100 мм. Максимальное разрешение захвата изображения составляет 3072x2304 пикселей.

Вес микроскопа без сенсорной головки составляет около 10 кг, с сенсорной головкой — около 26 кг. Вес контроллера составляет около 11 кг. Оборудование соответствует современным стандартам качества и предназначено для длительного срока службы при минимальных эксплуатационных затратах.

Последние отзывы или вопросы

Нет отзывов о данном товаре.