Измерительная система KEYENCE VK-X1100 с конфокальным оптическим принципом измерения VK-X1100-325603

Артикул: VK-X1100-325603

Цена: по запросу

Есть в наличии

Добавить к сравнению

Работаем с 44ФЗ, 223ФЗ, 275ФЗ

Аккредитация на АСТ ГОЗ

Характеристики

Описание

Доставка вМосква

Самовывоз из магазина0 руб.

по предварительному заказу
(Москва, Пресненская наб., 12 «Башня Федерация. Москва-Сити», этаж 42)

Курьером (1-2 рабочих дня)0 руб.

Самовывоз из ПВЗ (1-2 рабочих дня)0 руб.

Показать карту

ХАРАКТЕРИСТИКИ

Особенность -

Измерительные

Weight -

Approx. 13.0 kg

Вес -

Прибл. 13.0 кг

Type -

Measurement head

Тип -

Измерительная головка

Current consumption -

150 VA

Потребляемый ток -

150 ВА

Класс лазера -

Класс 2 (IEC60825-1)

Laser class -

Class 2 laser product (IEC60825-1)

Метод сканирования -

Автоматическая установка верхнего/нижнего предела, быстрая установка интенсивности лазерного света (AAGII), автоматическое обнаружение и повторное сканирование в случае плохого отражения (двойное сканирование)

Точность -

±2 %

XY stage configuration Manual: Moving range -

70 mm x 70 mm

Power supply Power voltage -

100 to 240 VAC, 50/60 Hz

Подсветка -

Кольцевая подсветка, коаксиальная подсветка

Принцип измерения -

Пинхольная конфокальная оптическая система, Вариация фокуса

Accuracy -

±2 %*3

Total magnification -

Up to 28,800 x*1

Field of view (minimum range) -

11 to 7,398 µm

Frame rate (laser measurement speed) -

4 to 125 Hz, 7,900 Hz*2

Measurement principle Optical system -

Pinhole confocal optical system, Focus variation

Light-receiving element -

16-bit sensing: photomultiplier, High-definition colour CMOS

Scanning method (during general measurement and image stitching) -

Automatic upper/lower limit setting, rapid laser light intensity setting (AAGII) , automatic detection and rescanning in case of poor reflection (double scan)

Height measurement Display resolution -

0.5 nm

Dynamic range -

16 bits

Repeatability Laser confocal -

20 x, 40 nm, 50 x, 12 nm

Focus variation -

5 x, 400 nm, 10 x, 400 nm, 20 x, 120 nm, 50 x, 50 nm

Height data acquisition range -

0.7 million steps

Width measurement Display resolution -

1 nm

Repeatability 3 Laser confocal -

20 x, 100 nm, 50 x, 40 nm

Motorised: Moving range -

100 mm x 100 mm

Observation Image options -

High-definition colour CMOS image 16-bit laser colour confocal image Confocal optical system with ND filter C-laser DIC image (differential interference image)

Illumination -

Ring illumination, coaxial illumination

Laser light source for measurements Wavelength -

Violet semiconductor laser, 404 nm

Maximum output power -

1 mW

Общее увеличение -

До 28 800 x

Поле зрения (минимальный диапазон) -

11 до 7 398 мкм

Частота кадров (скорость лазерного измерения) -

4 до 125 Гц, 7 900 Гц

Динамический диапазон -

16 бит

Опции изображения -

Цветное CMOS изображение высокого разрешения, 16-битное лазерное цветное конфокальное изображение, Конфокальная оптическая система с ND-фильтром, C-лазерное DIC-изображение (дифференциальное интерференционное изображение)

Максимальная выходная мощность лазера -

1 мВт

Повторяемость измерения ширины -

20x, 100 нм; 50x, 40 нм

Повторяемость лазерного конфокального измерения -

20x, 40 нм; 50x, 12 нм

Диапазон сбора данных по высоте -

0.7 миллиона шагов

Элемент приема света -

16-битный сенсор: фотоумножитель, Цветной CMOS высокого разрешения

Разрешение по высоте -

0.5 нм

Повторяемость фокусной вариации -

5x, 400 нм; 10x, 400 нм; 20x, 120 нм; 50x, 50 нм

Разрешение по ширине -

1 нм

Конфигурация XY-стола (ручное перемещение) -

70 мм x 70 мм

Конфигурация XY-стола (моторизованное перемещение) -

100 мм x 100 мм

Длина волны лазерного источника -

Фиолетовый полупроводниковый лазер, 404 нм

Модель -

VK-X1100

ОПИСАНИЕ

Измерительная система Keyence VK-X1100 от бренда Keyence представляет собой высокоточное оборудование для бесконтактных измерений. Система использует пинхольный конфокальный оптический принцип и вариацию фокуса для получения данных. Она способна обеспечивать общее увеличение до 28 800x и имеет минимальное поле зрения от 11 до 7 398 мкм, что позволяет работать с микроскопическими объектами.

Технические характеристики включают частоту кадров от 4 до 125 Гц (до 7 900 Гц в специальном режиме), 16-битный фотоумножитель и высококачественную цветную CMOS-матрицу в качестве светочувствительного элемента. Разрешение по высоте составляет 0.5 нм, а динамический диапазон достигает 16 бит. Система обеспечивает высокую повторяемость измерений: для лазерного конфокального метода при 20x — 40 нм, при 50x — 12 нм; для фокусной вариации при 5x — 400 нм, при 50x — 50 нм. Диапазон сбора данных по высоте составляет 0.7 миллиона шагов с точностью ±2%.

Оборудование оснащено XY-столом с ручным перемещением 70x70 мм и моторизованным перемещением 100x100 мм. Доступны различные опции изображения, включая высококачественное цветное CMOS-изображение, 16-битное лазерное цветное конфокальное изображение и C-лазерное DIC-изображение. Подсветка осуществляется кольцевым и коаксиальным освещением. В качестве лазерного источника используется фиолетовый полупроводниковый лазер с длиной волны 404 нм и максимальной выходной мощностью 1 мВт, соответствующий классу 2 лазерных продуктов (IEC60825-1).

Система работает от сети 100-240 В переменного тока, 50/60 Гц, с потребляемым током 150 ВА. Вес устройства составляет приблизительно 13.0 кг. Данная измерительная система подходит для использования в промышленности, строительстве и инженерных системах, где требуется точный контроль размеров и поверхностей.

Последние отзывы или вопросы

Нет отзывов о данном товаре.

Написать отзыв или вопрос

Оценка:

Ваше имя:

Комментарий:

Прикрепить фото

Загрузить

Номер заказа:

Уведомить об ответах по e-mail:

Ваш e-mail:

Отправить отзыв

Подробно опишите свой опыт взаимодействия с магазином.
Расскажите, как вас обслуживали при выборе, заказе, доставке, возврате товара, о самом товаре и опыте его использования.