Измерительная система KEYENCE VK-X260K с увеличением до 28000x VK-X260K-325614

Измерительная система Keyence VK-X260K представляет собой высокоточное оборудование для бесконтактного измерения и анализа поверхностей. Система разработана брендом Keyence и предназначена для применения в различных отраслях промышленности, строительства и инженерии, где требуется детальный контроль и анализ микроструктур. Модель VK-X260K обеспечивает увеличение до 28000x и использует пинхольную конфокальную оптическую систему для получения точных данных.

Система VK-X260K оснащена оптической системой с пинхольным конфокальным принципом измерения, что позволяет достигать высокой точности по высоте до 0.5 нм. Скорость лазерного измерения варьируется от 4 до 120 Гц, с пиковым значением до 7900 Гц. Повторяемость измерений составляет 40 нм при 20x, 12 нм при 50x и 12 нм при 150x. Точность измерений заявлена на уровне ±2%. Разрешение дисплея для измерения ширины составляет 1 нм, а повторяемость по ширине — 100 нм при 20x, 40 нм при 50x и 20 нм при 150x.

Оборудование подходит для широкого спектра задач, включая контроль качества, научно-исследовательские работы, анализ материалов и микроэлектронику. Оно позволяет проводить измерения как в ручном режиме с диапазоном работы XY-стола 70x70 мм, так и в моторизованном режиме с диапазонами 50x50 мм или 100x100 мм. Максимальное разрешение захвата изображения составляет 3072x2304 пикселей, что обеспечивает детализированную визуализацию исследуемых образцов.

Система VK-X260K отличается стабильной работой и соответствует современным стандартам качества. Вес микроскопа составляет приблизительно 26 кг (без сенсорной головки, которая весит около 10 кг), а контроллера — около 11 кг. Производитель Keyence гарантирует долговечность и простоту эксплуатации оборудования.