ПН-ВС 9:00-21:00

Ваш город - Москва

От выбраного города зависят сроки доставки

Юрлица: 8 (499) 450-86-44
Измерительная система KEYENCE VK-X120K с увеличением до 19200x VK-X120K-325600
  • Измерительная система KEYENCE VK-X120K с увеличением до 19200x VK-X120K-325600
  • Измерительная система KEYENCE VK-X120K с увеличением до 19200x VK-X120K-325600
  • Измерительная система KEYENCE VK-X120K с увеличением до 19200x VK-X120K-325600
  • Измерительная система KEYENCE VK-X120K с увеличением до 19200x VK-X120K-325600
  • Измерительная система KEYENCE VK-X120K с увеличением до 19200x VK-X120K-325600

Измерительная система KEYENCE VK-X120K с увеличением до 19200x VK-X120K-325600

Артикул: VK-X120K-325600
Цена: по запросу
Есть в наличии
Работаем с 44ФЗ, 223ФЗ, 275ФЗ
Аккредитация на АСТ ГОЗ
Доставка вМосква
Самовывоз из магазина0 руб.
по предварительному заказу
(Москва, Пресненская наб., 12 «Башня Федерация. Москва-Сити», этаж 42)
Самовывоз из ПВЗ (1-2 рабочих дня)0 руб.

ХАРАКТЕРИСТИКИ

Repeatability
- 20?: 40 nm, 50?: 20 nm, 100?: 20 nm *3
Вес контроллера
- Прибл. 11 кг
Controller
- Approx. 11 kg
Accuracy
- ±2%*3
Точность измерения
- ±2%
Total magnification
- Up to 19200?*1
Field of view (minimum range)
- 16 to 5400 µm
Width measurement Display resolution
- 10 nm
Общее увеличение
- До 19200x
Поле зрения (минимальный диапазон)
- От 16 до 5400 мкм
Частота кадров (скорость лазерного измерения)
- 4-120 Гц, 7900 Гц
Frame rate Laser measurement speed
- 4 to 120 Hz, 7,900 Hz*2
Measurement principles Optical system
- Pinhole confocal optical system
Height measurement Linear scale
- 5 nm
Memory for Z-axis measurement
- 1.4 million steps
Repeatability 3
- 20?: 100 nm, 50?: 50 nm, 100?: 30 nm*3
XY stage configuration Manual: Operating range
- 70 mm?70 mm
Motorized: Operating range
- 50 ? 50 mm, 100 ? 100 mm*6
Observation Maximum capture resolution
- 3072?2304
Weight Microscope
- Approx. 25 kg (without sensor head, approx. 8.5 kg)
Повторяемость измерения высоты
- 20x: 40 нм, 50x: 20 нм, 100x: 20 нм
Память для измерения по оси Z
- 1.4 миллиона шагов
Повторяемость измерения ширины
- 20x: 100 нм, 50x: 50 нм, 100x: 30 нм
Максимальное разрешение захвата
- 3072x2304
Вес микроскопа
- Прибл. 25 кг (без сенсорной головки, прибл. 8.5 кг)
Принципы измерения (оптическая система)
- Пинхол-конфокальная оптическая система
Линейный масштаб измерения высоты
- 5 нм
Разрешение дисплея ширины
- 10 нм
Конфигурация XY-стола (ручной диапазон)
- 70x70 мм
Конфигурация XY-стола (моторизованный диапазон)
- 50x50 мм, 100x100 мм
Особенность
Модель

ОПИСАНИЕ

Измерительная система Keyence VK-X120K представляет собой высокоточный прибор для бесконтактных измерений. Модель VK-X120K от бренда Keyence обеспечивает общее увеличение до 19200x и минимальное поле зрения от 16 до 5400 мкм. Система использует пинхол-конфокальную оптическую систему для измерений и подходит для применения в промышленности, строительстве и инженерных системах, где требуется высокая точность и стабильность работы.

Технические характеристики системы включают скорость лазерного измерения от 4 до 120 Гц (до 7900 Гц), линейный масштаб измерения высоты 5 нм и повторяемость измерения высоты 20 нм при 100x увеличении. Память для измерения по оси Z составляет 1.4 миллиона шагов, а общая точность измерения достигает ±2%. Разрешение дисплея при измерении ширины составляет 10 нм, с повторяемостью 30 нм при 100x увеличении.

Система оснащена XY-столом с ручным управлением (диапазон 70x70 мм) и моторизованным управлением (диапазон 50x50 мм или 100x100 мм). Максимальное разрешение захвата изображения составляет 3072x2304 пикселей. Оборудование предназначено для широкого спектра задач, требующих точного анализа поверхностей и размеров объектов.

Вес микроскопа составляет приблизительно 25 кг (без сенсорной головки, которая весит около 8.5 кг), а контроллера — около 11 кг. Система разработана с учетом требований к надежности и безопасности, обеспечивая стабильную работу в условиях высоких нагрузок.

Последние отзывы или вопросы

Нет отзывов о данном товаре.