Измерительная система KEYENCE VK-X160K с увеличением до 19200x и скоростью лазерного измерения до 120 Гц VK-X160K-325606

Измерительная система Keyence VK-X160K представляет собой высокоточный прибор для бесконтактных измерений, разработанный брендом Keyence. Модель VK-X160K обеспечивает общее увеличение до 19200x и минимальное поле зрения от 16 до 5400 мкм. Система использует пинхол-конфокальную оптическую систему для измерения и подходит для широкого спектра промышленных, строительных и инженерных задач, требующих высокой точности и стабильности.

Технические характеристики включают скорость лазерного измерения от 4 до 120 Гц с пиковой частотой 7900 Гц. Линейная шкала измерения высоты составляет 5 нм, а повторяемость измерения высоты варьируется от 20 нм до 40 нм в зависимости от увеличения. Память для измерения по Z-оси достигает 1.4 миллиона шагов, обеспечивая детализированный анализ поверхности. Точность измерения составляет ±2%, а разрешение дисплея для измерения ширины — 10 нм.

Система оснащена XY-столом, доступным в ручной конфигурации с рабочим диапазоном 70x70 мм или моторизованной конфигурации с диапазоном 50x50 мм или 100x100 мм. Максимальное разрешение захвата изображения составляет 3072x2304 пикселей, что позволяет получать детализированные изображения исследуемых образцов. Оборудование предназначено для применения в условиях, где критически важны стабильная работа и минимальные эксплуатационные затраты.

Вес микроскопа без сенсорной головки составляет около 25 кг (с сенсорной головкой около 8.5 кг), а контроллера — около 11 кг. Система Keyence VK-X160K соответствует современным стандартам качества и отличается надёжностью, что подтверждается отзывами пользователей о долговечности и простоте эксплуатации.