Конфокальный 3D измерительный микроскоп KEYENCE VK-X110 VK-X110-325535

Микроскоп Keyence VK-X110 представляет собой конфокальную оптическую систему для 3D измерений. Данное оборудование, произведенное брендом Keyence, предназначено для высокоточного анализа поверхностей и измерения характеристик объектов. Модель VK-X110 обеспечивает общее увеличение от 200x до 16000x и оснащена оптической системой с пинхол-конфокальным принципом.

Устройство включает в себя измерительный блок с красным полупроводниковым лазером (658 нм, 0.95 мВт) и фотоэлектронным умножителем (PMT) для приема света. Для оптического наблюдения используется 100 Вт галогенная лампа и цветная CCD-камера 1/3'' с разрешением 3072x2304. Микроскоп способен выполнять измерение высоты в диапазоне до 7 мм с Z-разрешением 0.005 мкм и повторяемостью 0.02 мкм. Ширина измеряется с разрешением 0.01 мкм и повторяемостью 0.03 мкм.

В комплекте поставляется специализированный ПК с ОС Windows 7 Professional Edition и программное обеспечение для автоматической фокусировки, увеличения количества пикселей (Pixel shift), оптимизации изображения (HDR), быстрого и точного определения результатов (RPD), автоматической настройки чувствительности лазера (AAG), автоматического определения границ измерения и режима для начинающих пользователей (Beginner mode). Эти функции упрощают процесс измерений и повышают точность анализа.

Микроскоп Keyence VK-X110 подходит для применения в промышленности, строительстве и инженерных системах, где требуется точный контроль качества поверхностей, анализ микроструктур и проведение метрологических исследований. Оборудование работает от сети 100-240 В переменного тока, 50/60 Гц, с максимальным потреблением 450 ВА. Вес устройства составляет около 25 кг (измерительная головка: 8.5 кг).