Микроскоп KEYENCE VK-X130K 3D лазерный сканирующий до 19200x VK-X130K-325540

Микроскоп Keyence VK-X130K представляет собой 3D лазерный сканирующий микроскоп, разработанный для высокоточных измерений и анализа поверхностей. Устройство произведено брендом Keyence и отличается способностью к увеличению до 19200x, что позволяет проводить детальный анализ микроструктур. Модель VK-X130K предназначена для использования в промышленных, строительных и инженерных системах, где требуется стабильная работа и точность.

Технические характеристики микроскопа включают поле зрения от 16 до 5400 мкм и скорость лазерного измерения от 4 до 120 Гц, с пиковым значением до 7900 Гц. Высота измерения по линейной шкале составляет 5 нм, а точность достигает ±2%. Повторяемость измерений варьируется от 20 нм для 50x и 100x увеличений до 40 нм для 20x увеличения. Для измерения по оси Z доступно 1.4 миллиона шагов памяти, что обеспечивает высокую детализацию профиля поверхности. Разрешение дисплея при измерении ширины составляет 10 нм.

Оборудование оснащено XY столом с ручным управлением в диапазоне 70x70 мм или моторизованным управлением в диапазонах 50x50 мм и 100x100 мм. Максимальное разрешение захвата изображения составляет 3072x2304 пикселей, что позволяет получать высококачественные визуальные данные. Микроскоп Keyence VK-X130K подходит для контроля качества, исследования материалов и разработки новых продуктов, где критически важны точные измерения и анализ поверхностей.

Вес микроскопа составляет приблизительно 25 кг без сенсорной головки (с сенсорной головкой около 8.5 кг), а контроллер весит около 11 кг. Эти параметры обеспечивают относительную мобильность и удобство установки оборудования в лабораторных и производственных условиях. Отзывы пользователей подтверждают долговечность и простоту эксплуатации устройства.