Измерительная система KEYENCE VK-X250K конфокальная оптическая VK-X250K-325610

Измерительная система Keyence VK-X250K представляет собой высокоточный прибор, разработанный брендом Keyence для бесконтактного измерения поверхностей. Модель VK-X250K использует пинхольную конфокальную оптическую систему, что обеспечивает высокую точность и детализацию измерений. Система способна работать с увеличением до 28000x и имеет минимальное поле зрения от 11 до 5400 мкм, что позволяет исследовать объекты различного масштаба.

Основные технические характеристики включают скорость лазерного измерения от 4 до 120 Гц (до 7900 Гц в режиме высокоскоростного сканирования) и разрешение измерения высоты 0.5 нм. Повторяемость измерения высоты составляет 40 нм при 20x увеличении и 12 нм при 50x и 150x. Точность измерения высоты достигает ±2%. Для измерения по оси Z доступно 14 миллионов шагов памяти, а разрешение измерения ширины составляет 1 нм. Повторяемость измерения ширины варьируется от 100 нм при 20x до 20 нм при 150x.

Система оснащена XY столом с ручным управлением (диапазон 70x70 мм) и моторизованным управлением (диапазоны 50x50 мм или 100x100 мм). Максимальное разрешение захвата изображения составляет 3072x2304 пикселей. Данное оборудование подходит для применения в промышленности, строительстве и инженерных системах, где требуется точный контроль качества поверхностей, анализ микроструктур и измерение геометрических параметров.

Вес микроскопа составляет около 26 кг (без сенсорной головки около 10 кг), а контроллера — около 11 кг. Система Keyence VK-X250K обеспечивает стабильную работу и соответствует современным стандартам качества, что подтверждается отзывами пользователей о её долговечности и простоте эксплуатации.