ПН-ВС 9:00-21:00

Ваш город - Москва

От выбраного города зависят сроки доставки

Юрлица: 8 (499) 450-86-44
Конфокальный лазерный микроскоп KEYENCE VK-X150K с увеличением до 19200x VK-X150K-325539
  • Конфокальный лазерный микроскоп KEYENCE VK-X150K с увеличением до 19200x VK-X150K-325539
  • Конфокальный лазерный микроскоп KEYENCE VK-X150K с увеличением до 19200x VK-X150K-325539
  • Конфокальный лазерный микроскоп KEYENCE VK-X150K с увеличением до 19200x VK-X150K-325539
  • Конфокальный лазерный микроскоп KEYENCE VK-X150K с увеличением до 19200x VK-X150K-325539
  • Конфокальный лазерный микроскоп KEYENCE VK-X150K с увеличением до 19200x VK-X150K-325539

Конфокальный лазерный микроскоп KEYENCE VK-X150K с увеличением до 19200x VK-X150K-325539

Артикул: VK-X150K-325539
Цена: по запросу
Есть в наличии
Работаем с 44ФЗ, 223ФЗ, 275ФЗ
Аккредитация на АСТ ГОЗ
Доставка вМосква
Самовывоз из магазина0 руб.
по предварительному заказу
(Москва, Пресненская наб., 12 «Башня Федерация. Москва-Сити», этаж 42)
Самовывоз из ПВЗ (1-2 рабочих дня)0 руб.

ХАРАКТЕРИСТИКИ

Repeatability
- 20?: 40 nm, 50?: 20 nm, 100?: 20 nm *3
Вес контроллера
- Прибл. 11 кг
Controller
- Approx. 11 kg
Принцип измерения
- Пинхольная конфокальная оптическая система
Accuracy
- ±2%*3
Точность измерения
- ±2%
Total magnification
- Up to 19200?*1
Field of view (minimum range)
- 16 to 5400 µm
Width measurement Display resolution
- 10 nm
Frame rate Laser measurement speed
- 4 to 120 Hz, 7,900 Hz*2
Measurement principles Optical system
- Pinhole confocal optical system
Height measurement Linear scale
- 5 nm
Memory for Z-axis measurement
- 1.4 million steps
Repeatability 3
- 20?: 100 nm, 50?: 50 nm, 100?: 30 nm*3
XY stage configuration Manual: Operating range
- 70 mm?70 mm
Motorized: Operating range
- 50 ? 50 mm, 100 ? 100 mm*6
Observation Maximum capture resolution
- 3072?2304
Weight Microscope
- Approx. 25 kg (without sensor head, approx. 8.5 kg)
Повторяемость измерения высоты
- 20 нм (100x)
Повторяемость измерения ширины
- 30 нм (100x)
Максимальное разрешение захвата
- 3072x2304
Вес микроскопа
- Прибл. 25 кг (без сенсорной головки прибл. 8.5 кг)
Максимальное увеличение
- До 19200x
Минимальное поле зрения
- 16 мкм
Максимальное поле зрения
- 5400 мкм
Скорость лазерного измерения
- 4-120 Гц, 7900 Гц
Линейная шкала измерения высоты
- 5 нм
Память для измерения по Z-оси
- 1.4 млн шагов
Разрешение дисплея (ширина)
- 10 нм
Диапазон XY-стола (ручной)
- 70x70 мм
Диапазон XY-стола (моторизованный)
- 50x50 мм, 100x100 мм
Модель

ОПИСАНИЕ

Конфокальный лазерный микроскоп Keyence VK-X150K предназначен для высокоточных измерений и наблюдений в различных отраслях промышленности, строительства и инженерных систем. Произведенный брендом Keyence, он обеспечивает увеличение до 19200x и использует пинхольную конфокальную оптическую систему для получения детализированных изображений и точных данных.

Модель VK-X150K обладает широким полем зрения от 16 до 5400 мкм и высокой скоростью лазерного измерения от 4 до 120 Гц (до 7900 Гц). Линейная шкала измерения высоты составляет 5 нм, а повторяемость измерений высоты достигает 20 нм при 100-кратном увеличении. Разрешение дисплея при измерении ширины составляет 10 нм с повторяемостью 30 нм при 100-кратном увеличении.

Микроскоп оснащен памятью для измерения по Z-оси на 1.4 миллиона шагов и обеспечивает точность измерений ±2%. Доступны конфигурации XY-стола: ручная с диапазоном 70x70 мм и моторизованная с диапазонами 50x50 мм или 100x100 мм. Максимальное разрешение захвата изображения составляет 3072x2304 пикселей, что позволяет получать высококачественные снимки исследуемых образцов.

Оборудование отличается стабильной работой и соответствует современным стандартам качества, что подтверждается отзывами пользователей о его долговечности и простоте эксплуатации. Вес микроскопа составляет около 25 кг (без сенсорной головки – 8.5 кг), а контроллера – около 11 кг.

Последние отзывы или вопросы

Нет отзывов о данном товаре.